Выбирайте метод, измеряющий нужное свойство
- DSC
При заданной программе изменения температуры сравнивают тепловые потоки образца и эталона. Переходы определяют с учётом применимого метода и состояния материала.
- FTIR / ATR-FTIRЭтот термин
FTIR даёт информацию об инфракрасном спектре. В методе ATR используется заданное приповерхностное взаимодействие; глубина анализа и подготовка отличаются от других схем FTIR.
- Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)
Характеристические линии излучения дают сведения об элементном составе в рамках калиброванного метода. На интерпретацию влияют геометрия, матрица материала и модель покрытия.
- Сканирующая электронная микроскопия (SEM)
Сканирующий электронный пучок создаёт сигналы, регистрируемые от образца. Полезная информация зависит от подготовки, масштаба и режимов работы.
- Инфракрасная термография
Зарегистрированное инфракрасное излучение интерпретируют с помощью измерительной модели. На оценку температуры поверхности влияют излучательная способность, отражения и условия наблюдения.
- Кулонометрический метод измерения
Контролируемое анодное растворение связывает измеренный заряд с толщиной покрытия. Укажите открытую площадь, систему покрытия и способ определения конечной точки.
Тепловые, спектральные, элементные, микроскопические, инфракрасные и электрохимические методы дают разные виды данных. Подготовка образца и калибровка определяют, как интерпретировать каждый результат.
Условные пути прохождения сигналов в приборах и качественные результаты. Это не спецификации оборудования и не измеренные кривые; ни один метод сам по себе не подтверждает все свойства материала или покрытия.