필요한 특성을 측정하는 방법을 사용하십시오

도해 설명

2푸리에 변환 적외선 분광법(FTIR) / 감쇠 전반사 FTIR(ATR-FTIR)

시차 주사 열량 측정(DSC)
제어된 온도 프로그램에서 시료와 기준 시료의 열유량을 비교합니다. 해당 방법과 재료 상태에 따라 전이를 식별하십시오.
푸리에 변환 적외선 분광법(FTIR) / 감쇠 전반사 FTIR(ATR-FTIR)이 용어
FTIR은 적외선 스펙트럼 정보를 제공합니다. ATR은 정의된 표면 근접 상호작용을 이용하며, 측정 깊이와 시료 준비가 다른 FTIR 방식과 다릅니다.
XRF
특성 방출선을 통해 교정된 방법에 따른 원소 정보를 얻습니다. 형상, 기지 재료 및 코팅 모델이 해석에 영향을 줍니다.
SEM
주사 전자빔이 시료에서 검출 신호를 생성합니다. 시료 준비, 배율 및 운전 조건에 따라 유용한 정보가 달라집니다.
적외선 열화상
검출된 적외선은 측정 모델을 통해 해석됩니다. 방사율, 반사 및 관측 조건이 추정 표면 온도에 영향을 줍니다.
전량 분석 측정
제어된 양극 용해를 통해 측정 전하량을 코팅 두께와 연관시킵니다. 노출 면적, 코팅 시스템 및 종말점 검출 방법을 지정하십시오.

열 분석, 분광, 원소 분석, 현미경, 적외선 및 전기화학 방법은 서로 다른 종류의 근거를 제공합니다. 시료 준비와 교정에 따라 각 결과의 해석이 달라집니다.

기기 경로와 정성적 출력을 개념적으로 나타낸 그림입니다. 장치 사양이나 측정 추적 결과가 아니며, 하나의 방법만으로 재료나 코팅의 모든 특성을 확인할 수는 없습니다.