도해 설명
6전량 분석 측정필요한 특성을 측정하는 방법을 사용하십시오
- 시차 주사 열량 측정(DSC)
제어된 온도 프로그램에서 시료와 기준 시료의 열유량을 비교합니다. 해당 방법과 재료 상태에 따라 전이를 식별하십시오.
- 푸리에 변환 적외선 분광법(FTIR) / 감쇠 전반사 FTIR(ATR-FTIR)
FTIR은 적외선 스펙트럼 정보를 제공합니다. ATR은 정의된 표면 근접 상호작용을 이용하며, 측정 깊이와 시료 준비가 다른 FTIR 방식과 다릅니다.
- XRF
특성 방출선을 통해 교정된 방법에 따른 원소 정보를 얻습니다. 형상, 기지 재료 및 코팅 모델이 해석에 영향을 줍니다.
- SEM
주사 전자빔이 시료에서 검출 신호를 생성합니다. 시료 준비, 배율 및 운전 조건에 따라 유용한 정보가 달라집니다.
- 적외선 열화상
검출된 적외선은 측정 모델을 통해 해석됩니다. 방사율, 반사 및 관측 조건이 추정 표면 온도에 영향을 줍니다.
- 전량 분석 측정이 용어
제어된 양극 용해를 통해 측정 전하량을 코팅 두께와 연관시킵니다. 노출 면적, 코팅 시스템 및 종말점 검출 방법을 지정하십시오.
열 분석, 분광, 원소 분석, 현미경, 적외선 및 전기화학 방법은 서로 다른 종류의 근거를 제공합니다. 시료 준비와 교정에 따라 각 결과의 해석이 달라집니다.
기기 경로와 정성적 출력을 개념적으로 나타낸 그림입니다. 장치 사양이나 측정 추적 결과가 아니며, 하나의 방법만으로 재료나 코팅의 모든 특성을 확인할 수는 없습니다.