図による解説
1DSC必要な特性を測定する方法を使う
- DSCこの用語
管理された温度プログラムで試料と参照物質の熱流を比較します。適用する方法と材料状態に基づき転移を特定してください。
- FTIR／ATR-FTIR
FTIRは赤外スペクトル情報を得ます。ATRは定義された表面近傍の相互作用を用い、試料深さと準備は他のFTIR構成と異なります。
- XRF
校正済みの方法により特性X線から元素情報を得ます。形状、母材、被膜モデルが解釈に影響します。
- SEM
走査電子線が試料から検出信号を生じさせます。有用な情報は試料準備、倍率、運転条件によって決まります。
- 赤外線サーモグラフィ
検出した赤外線を測定モデルに基づいて解釈します。放射率、反射、観察条件が推定表面温度に影響します。
- 電量測定
管理された陽極溶解により、測定電荷を被膜厚さに関連付けます。露出面積、被膜系、終点検出方法を指定してください。
熱分析、分光、元素分析、顕微分析、赤外線分析、電気化学的方法はそれぞれ異なる根拠を生みます。試料準備と校正によって各結果の解釈が決まります。
装置経路と定性的な出力の概念図です。装置仕様や測定記録ではなく、単独の方法で材料または被膜の全特性を適格とするものでもありません。