SEM (Rasterelektronenmikroskopie)
Verfahren passend zur benötigten Eigenschaft auswählen
- Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC)
Ein kontrolliertes Temperaturprogramm vergleicht den Wärmefluss von Probe und Referenz. Bestimmen Sie Übergänge mit dem geeigneten Verfahren und für den jeweiligen Werkstoffzustand.
- FTIR / ATR-FTIR
FTIR liefert infrarotspektroskopische Informationen. ATR nutzt eine festgelegte Wechselwirkung im oberflächennahen Bereich; Eindringtiefe und Vorbereitung unterscheiden sich von anderen FTIR-Anordnungen.
- Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF)
Charakteristische Emissionen liefern nach dem kalibrierten Verfahren Informationen zu Elementen. Geometrie, Matrix und Beschichtungsmodell beeinflussen die Interpretation.
- SEM (Rasterelektronenmikroskopie)Dieser Begriff
Der abtastende Elektronenstrahl erzeugt Signale aus der Probe, die erfasst werden. Vorbereitung, Maßstab und Betriebsbedingungen bestimmen den Informationsgehalt.
- Infrarotthermografie
Erfasste Infrarotstrahlung wird anhand eines Messmodells interpretiert. Emissionsgrad, Reflexionen und Blickbedingungen beeinflussen die geschätzte Oberflächentemperatur.
- Coulometrische Messung
Die kontrollierte anodische Auflösung setzt die gemessene Ladung mit der Schichtdicke in Beziehung. Geben Sie freigelegte Fläche, Beschichtungssystem und Erkennung des Endpunkts an.
Thermische, spektrale, elementanalytische, mikroskopische, infrarote und elektrochemische Verfahren liefern unterschiedliche Nachweise. Probenvorbereitung und Kalibrierung bestimmen, wie die einzelnen Ergebnisse interpretiert werden können.
Schematische Messwege und qualitative Ausgaben. Dies sind weder Gerätespezifikationen noch Messkurven; kein Verfahren allein qualifiziert sämtliche Eigenschaften eines Werkstoffs oder einer Beschichtung.