雙同軸法
三導體配置用於指定屏蔽量測。應確認確切 IEC 方法、試樣及量測量值。
耦合同軸區域用於評估指定貫穿件或墊片接口。試樣結果不能為不同完整外殼取得資格認證。
同心導電區域形成受控激發及量測路徑。三同軸試樣與艙壁貫穿件或墊片試樣採用不同治具配置。
拓樸示意圖，並非具尺寸的試驗治具或標準電路重製圖。特定方法的端接、校正、試樣長度及頻率限值仍不可缺少。