塞規

圖解說明

量規檢查與座標量測各有不同用途

2塞規
量規檢查與座標量測各有不同用途標號 1:螺紋量規。標號 2:光面塞規。標號 3:座標探測。螺紋量規檢查指定的允收特徵,光面塞規檢查孔徑極限,而座標量測機則測量指定點位。應由檢驗計畫決定需要哪些檢查。 目前聚焦術語:塞規;圖示標號 2。 1螺紋量規 2光面塞規 3座標探測
  1. 螺紋量規

    指定量規檢查明確界定的螺紋限值。量規檢查合格不代表所有尺寸或密封特徵都已驗證。

  2. 塞規本術語

    光面塞規檢查相關孔徑限值。應依該特徵採用正確的通規或止規程序。

  3. CMM

    探測器記錄指定表面座標。量測策略及不確定度決定這些點位如何支援尺寸判定。

螺紋量規檢查指定的允收特徵,光面塞規檢查孔的限值,座標量測機則測量指定點位。所需檢查項目由檢驗計畫決定。

檢驗配置概念圖。量規類型、校正、溫度、判定規則及完整圖面要求仍須納入實際檢驗。